Спектроскопия XAFS Conference attendances
Language | Русский | ||
---|---|---|---|
Participant type | Устный | ||
Conference |
Летняя школа «Синхротронное излучение в мультидисциплинарных исследованиях» 23-26 Jul 2019 , Новосибирск |
||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Abstract:
На примере работ выполненных на станции EXAFS спектроскопии Сибирского Центра Синхротронного и Терагерцового излучения (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены методики обработки экспериментальных данных и анализа полученной структурной информации. Для широкого круга различных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования – РФА СИ, ПЭМВР, СЭМ, РФЭС.
Cite:
Кривенцов В.В.
Спектроскопия XAFS
Летняя школа «Синхротронное излучение в мультидисциплинарных исследованиях» 23-26 июл. 2019
Спектроскопия XAFS
Летняя школа «Синхротронное излучение в мультидисциплинарных исследованиях» 23-26 июл. 2019