Sciact
  • EN
  • RU

Chemical Interaction of the In–Ga Eutectic with Al and Al-Base Alloys Научная публикация

Журнал Inorganic Materials
ISSN: 0020-1685 , E-ISSN: 1608-3172
Вых. Данные Год: 2006, Том: 42, Номер: 3, Страницы: 256-260 Страниц : 5 DOI: 10.1134/S0020168506030083
Ключевые слова Aluminum; Experimental Data; Microscopy; Electron Microscopy; Inorganic Chemistry
Авторы Trenikhin M.V. 1 , Bubnov A.V. 1 , Nizovskii A.I. 2 , Duplyakin V.K. 1
Организации
1 Institute of Hydrocarbon Processing Problems, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, Neftezavodskaya ul. 54, Omsk, 644040 Russia
2 Boreskov Institute of Catalysis, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, pr. Akademika Lavrent’eva 5, Novosibirsk, 630090 Russia

Реферат: The chemical interaction of the indium-gallium eutectic with Al and Al-base alloys is studied by x-ray diffraction, optical microscopy, and electron microscopy. Experimental data are presented that shed light on the reaction mechanism and the diffusion processes responsible for the subsequent disintegration of the material and its dissolution in water. Mechanical tests show that the activation of aluminum leads to a transition from plastic to brittle fracture.
Библиографическая ссылка: Trenikhin M.V. , Bubnov A.V. , Nizovskii A.I. , Duplyakin V.K.
Chemical Interaction of the In–Ga Eutectic with Al and Al-Base Alloys
Inorganic Materials. 2006. V.42. N3. P.256-260. DOI: 10.1134/S0020168506030083 WOS Scopus РИНЦ CAPlusCA OpenAlex
Оригинальная: Тренихин М.В. , Бубнов А.В. , Низовский А.И. , Дуплякин В.К.
Взаимодействие эвтектики системы In-Ga с алюминием и его сплавами
Неорганические материалы. 2006. Т.42. №3. С.298-303. RSCI РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: 11 мая 2005 г.
Опубликована в печати: 1 мар. 2006 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000236182700009
Scopus: 2-s2.0-33645391096
РИНЦ: 13513159
Chemical Abstracts: 2006:290436
Chemical Abstracts (print): 145:401884
OpenAlex: W2086398073
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Web of science 33
Scopus 36
РИНЦ 31
OpenAlex 39
Альметрики: