Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов | Sciact - CRIS-система Института катализа

Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов Научная публикация

Журнал

Наноинженерия
ISSN: 2223-4586

Вых. Данные

Год: 2011, Номер: 4, Страницы: 3-22 Страниц : 19

Ключевые слова

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ; МЕТОД АНАЛИЗА ПАРНЫХ ФУНКЦИЙ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ (МЕТОД АНАЛИЗА РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ); НАНОМАТЕРИАЛЫ; ОКСИДЫ АЛЮМИНИЯ, X-RAY DIFFRACTION METHOD; PDF-METHOD; NANOMATERIALS; ALUMINA, ЦЕРИЯ, CERIUM, ЦИРКОНИЯ, ZIRCONIUM OXIDES

Авторы

Мороз Э.М. ¹

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, г. Новосибирск

Приведены данные по разработке и использованию рентгенографического метода радиального распределения электронной плотности, или метода парных функций распределения, основанного на ин- тегральном анализе рассеяния рентгеновских лучей. Метод дает информацию о межатомных расстояниях и координационных числах и применяется для обнаружения и оценки размеров нанообразований (фаз) менее 3 нм, которые не выявляются при обычном фазовом анализе по межплоскостным расстояниям. Являясь чувствительным к изменениям локальной структуры в области протяженностью 1...3 элемен- тарных ячеек, данный метод успешно используется для установления дефектов в нанообъектах.

Мороз Э.М.
Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов
Наноинженерия. 2011. №4. С.3-22. РИНЦ

РИНЦ:

16994491

БД	Цитирований
РИНЦ	2