Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Full article

Journal

Заводская лаборатория. Диагностика материалов
ISSN: 1028-6861

Output data

Year: 2015, Volume: 81, Number: 1-II, Pages: 157-160 Pages count : 4

Tags

атомно-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой, электротермическое испарение проб, концентрирование примесей, пределы обнаружения аналитов

Authors

Медведев Н.С. ¹ , Путьмаков А.Н. ² , Шаверина А.В. ¹ , Цыганкова А.Р. ^1,3 , Сапрыкин А.И. ^1,3

Affiliations

1	ФГБУН Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, Россия
2	ФГБУН Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия
3	ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Новосибирск, Россия

Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.

Медведев Н.С. , Путьмаков А.Н. , Шаверина А.В. , Цыганкова А.Р. , Сапрыкин А.И.
Снижение пределов обнаружения при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т.81. №1-II. С.157-160. RSCI РИНЦ

Submitted:

Dec 5, 2014

RSCI:	RSCI:23135645
Elibrary:	23135645

Пока нет цитирований