Sciact
  • EN
  • RU

Стабилизация тонких пленок TiO2–Co3O4 на стекловолокнистом материале введением в матрицу оксида кремния Научная публикация

Журнал Доклады Академии наук
ISSN: 0869-5652
Вых. Данные Год: 2016, Том: 470, Номер: 5, Страницы: 545-549 Страниц : 5 DOI: 10.7868/S0869565216290156
Авторы Козик В.В. 1 , Бричков А. 1 , Шамсутдинова А. 1 , Паукштис Е.А. 1,2 , Иванов В.К. 3 , Бричкова В.Ю. 1 , Пармон В.Н. 1,2
Организации
1 Национальный исследовательский Томский государственный университет
2 Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения Российской Академии наук, Новосибирск
3 Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской Академии наук, Москва

Информация о финансировании (1)

1 Министерство образования и науки Российской Федерации 11.801.2014/K

Реферат: Синтезировали и исследовали оксидную систему состава TiO2–Co3O4–SiO2, нанесенную на поверхность стекловолокнистого носителя. Закрепленные оксидные слои на поверхности стекловолокна имеют пористую структуру. Характеристики тонкопленочных покрытий на стекловолокнистом носителе (фазовый состав и адгезионные свойства оксидных слоев к поверхности стекловолокна) зависят от концентрации диоксида кремния. Полученные материалы активны в реакции глубокого окисления пропана.
Библиографическая ссылка: Козик В.В. , Бричков А. , Шамсутдинова А. , Паукштис Е.А. , Иванов В.К. , Бричкова В.Ю. , Пармон В.Н.
Стабилизация тонких пленок TiO2–Co3O4 на стекловолокнистом материале введением в матрицу оксида кремния
Доклады Академии наук. 2016. Т.470. №5. С.545-549. DOI: 10.7868/S0869565216290156 РИНЦ OpenAlex
Переводная: Kozik V.V. , Brichkov A.S. , Shamsutdinova A.N. , Paukshtis E.A. , Ivanov V.K. , Brichkova V.Y. , Parmon V.N.
Stabilization of TiO2–Co3O4 Thin Films on a Glass Fiber Material by Introduction of Silica into the Matrix
Doklady Physical Chemistry. 2016. V.470. N2. P.154-157. DOI: 10.1134/S0012501616100043 WOS Scopus РИНЦ CAPlusCA OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 16 мая 2016 г.
Идентификаторы БД:
РИНЦ: 26665446
OpenAlex: W2525571724
Цитирование в БД:
БД Цитирований
РИНЦ 2
Альметрики: