Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping | Sciact - CRIS-система Института катализа

Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping Тезисы доклада

Конференция

IX Международная конференция студентов и молодых ученых "Перспективы развития фундаментальных наук"
24-27 апр. 2012 , Томск

Сборник

Перспективы развития фундаментальных наук : труды IX Международной конференции студентов и молодых учёных. Россия, Томск, 24–27 апреля 2012 г.
Сборник, Национальный Исследовательский Томский политехнический университет. Томск.2012. ISBN 9785438700654.

Вых. Данные

Год: 2012, Страницы: 32 Страниц : 1

Авторы

Саланов А.Н. ¹

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, г.Новосибирск

Саланов А.Н.
Применение растровой электронной микроскопии для исследования материалов. Mapping
В сборнике Перспективы развития фундаментальных наук : труды IX Международной конференции студентов и молодых учёных. Россия, Томск, 24–27 апреля 2012 г.. – Национальный Исследовательский Томский политехнический университет., 2012. – C.32. – ISBN 9785438700654.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований