Sciact
  • EN
  • RU

Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента Conference Abstracts

Conference Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых
15-19 Apr 2013 , Москва-Клязьма
Source XV Всероссийский симпозиум «Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности» с участием иностранных ученых
Compilation, 2013.
Output data Year: 2013, Pages: 38 Pages count : 1
Authors Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Affiliations
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
Cite: Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента
In compilation XV Всероссийский симпозиум «Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности» с участием иностранных ученых. 2013. – C.38.
Identifiers: No identifiers
Citing: Пока нет цитирований