Abstract: Метод XAFS спектроскопии, в различных методических вариантах, реализованных с использованием синхротронного излучения, является общепризнанным мощным инструментом исследования состояния элементов и локальной структуры для разнообразных систем в практически любых агрегатных состояниях: сплавов, дисперсных систем, растворов, стекол, ультраразбавленных систем и др. Следует отметить, что метод XAFS спектроскопии наиболее эффективен при изучении наноразмерных систем “сложного” состава, с характерным размером менее 100 нм и низким содержанием по исследуемому элементу, когда применение других структурных методов заведомо проблематично и мало информативно. В представленном докладе рассмотрены физические основы метода XAFS спектроскопии, методические и аппаратурные особенности, методы предобработки экспериментальных данных и анализа структурной информации. На примере широкого круга различных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования - ПЭМВР, СЭМ, РФЭС, РФА СИ и др. Показана перспективность использованного комплексного подхода для исследования разбавленных наноструктурированных систем, капсулированных упорядоченных полупроводниковых наноструктур, нанокомпозитных катализаторов сложного состава, биологических наноматериалов.

Cite: Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов
In compilation Школа по подготовке молодых специалистов "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов". Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2015. – C.33.

Identifiers: No identifiers

Citing: Пока нет цитирований