Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ Тезисы доклада
| Конференция |
XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых «КоМУ-2018» 15-19 окт. 2018 , Ижевск |
||
|---|---|---|---|
| Сборник | XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов. Сборник, АНО "Ижевский институт компьютерных исследований". Ижевск:.2018. 120 c. ISBN 9785434405461. РИНЦ |
||
| Вых. Данные | Год: 2018, Страницы: 6-7 Страниц : 2 | ||
| Авторы |
|
||
| Организации |
|
Информация о финансировании (3)
| 1 | Российский фонд фундаментальных исследований | 16-03-01139 |
| 2 | Российский фонд фундаментальных исследований | 18-03-01251 |
| 3 | Федеральное агентство научных организаций России | 0303-2018-0010 |
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
В сборнике XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов.. – АНО "Ижевский институт компьютерных исследований"., 2018. – C.6-7. – ISBN 9785434405461. РИНЦ
Исследование функциональных наноматериалов методом XAFS спектроскопии (K, L3 - края): применение и методические особенности выполненых работ на станции EXAFS Спектроскопии СЦСТИ
В сборнике XI Всероссийская школа-конференция молодых ученых "КоМУ-2018", г. Ижевск, 15-19 октября 2018 г. Сборник тезисов докладов.. – АНО "Ижевский институт компьютерных исследований"., 2018. – C.6-7. – ISBN 9785434405461. РИНЦ
Идентификаторы БД:
| РИНЦ: | 37097822 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований