Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов Conference Abstracts

Conference	4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 Apr 2011 , Новосибирск
Source	Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии : 4-я Школа, Новосибирск, 25-29 апреля 2011 : Тезисы докладов Compilation, 2011.
Output data	Year: 2011, Pages: хх Pages count : 1
Authors	Саланов А.Н. 1 , Супрун Е.А. 1
Affiliations	1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, г. Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева 5, 630090, Россия