Sciact
  • EN
  • RU

Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ Тезисы доклада

Конференция XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь»
01-04 окт. 2019 , Воронеж
Сборник Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : материалы XXIII Всероссийской конференции с международным участием (Воронеж, 1-4 октября 2019 г.)
Сборник, ВГУ. Воронеж.2019. 171 c. ISBN 9785927328833.
Вых. Данные Год: 2019, Страницы: 45 Страниц : 1
Авторы Кривенцов В.В. 1
Организации
1 Институт катализа СО РАН, Новосибирск, Россия

Информация о финансировании (2)

1 Российский фонд фундаментальных исследований 18-03-01251
2 Сибирское отделение Российской академии наук 230
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
В сборнике Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : материалы XXIII Всероссийской конференции с международным участием (Воронеж, 1-4 октября 2019 г.). – ВГУ., 2019. – C.45. – ISBN 9785927328833.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Цитирование в БД: Пока нет цитирований