Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов Conference Abstracts

Conference

VI Всероссийская научно молодежная школа-конференция "Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии"
18-20 May 2020 , Омск

Source

Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов
Compilation, ИК СО РАН. Новосибирск.2020. 246 c. ISBN 9785906376282. РИНЦ

Output data

Year: 2020, Article number : ПР-12, Pages count : 2

Authors

Леонтьева Н.Н ¹ , Черепанова С.В. ² , Дроздов В.А. ¹ , Лавренов А.В. ¹

Affiliations

1	Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАН, ул. Нефтезаводская, 54, Омск, Россия
2	Институт катализа СО РАН, пр. Академика Лаврентьева, 5, Новосибирск, Россия

Funding (1)

Federal Agency for Scientific Organizations

V.46.2.4

Леонтьева Н.Н. , Черепанова С.В. , Дроздов В.А. , Лавренов А.В.
Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов
In compilation Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. VI Всероссийская научная молодёжная школа-конференция [Электронный ресурс] : сборник тезисов докладов. – ИК СО РАН., 2020. – C.18-19. – ISBN 9785906376282. РИНЦ

Elibrary:

46488158

Пока нет цитирований