Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции Conference Abstracts
| Conference |
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 Sep 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск |
||||
|---|---|---|---|---|---|
| Source | Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов Compilation, Институт катализа СО РАН. Новосибирск.2020. 456 c. ISBN 9785906376299. РИНЦ |
||||
| Output data | Year: 2020, Article number : УД-IV-2, Pages count : 2 | ||||
| Authors |
|
||||
| Affiliations |
|
Funding (1)
| 1 | Council for Grants of the President of the Russian Federation | МД-79.2020.3 |
Cite:
Евтушок Б.Ю.
, Черепанова С.В.
, Козлова Е.А.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
In compilation Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – Институт катализа СО РАН., 2020. – C.111-112. – ISBN 9785906376299.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
In compilation Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – Институт катализа СО РАН., 2020. – C.111-112. – ISBN 9785906376299.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований