Использование молекул-зондов для исследования поверхности наночастиц методом EXAFS спектроскопии | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Использование молекул-зондов для исследования поверхности наночастиц методом EXAFS спектроскопии Conference Abstracts

Conference

Современная химическая физика : XVII Всероссийский симпозиум
18-29 Sep 2005 , Туапсе

Source

Современная химическая физика : XVII симпозиум. Тезисы докладов
Compilation, 2005. 248 c.

Output data

Year: 2005, Pages: 134-135 Pages count : 2

Authors

Кривенцов В.В. ¹ , Кочубей Д.И. ¹ , Цодиков М.В. ² , Colón G. ³ , Hidalgo M.C. ³ , Navio J.A. ³

Affiliations

1	ИК СО РАН, Новосибирск
2	ИНХС РАН, Москва
3	Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla, Centro Mixto CSIC-Universidad de Sevilla, Spain

Funding (2)

1	Russian Foundation for Basic Research	03-03-32340
2	North Atlantic Treaty Organization	EST.CLG 979855

Кривенцов В.В. , Кочубей Д.И. , Цодиков М.В. , Colón G. , Hidalgo M.C. , Navio J.A.
Использование молекул-зондов для исследования поверхности наночастиц методом EXAFS спектроскопии
In compilation Современная химическая физика : XVII симпозиум. Тезисы докладов. 2005. – C.134-135.

No identifiers

Пока нет цитирований