Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ Conference Abstracts

Conference

XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь»
24-27 May 2010 , Новосибирск

Source

XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь», РЭСХС-2010. Сборник тезисов докладов.
Compilation, ИК СО РАН. Новосибирск.2010. 270 c. РИНЦ

Output data

Year: 2010, Article number : СД-4-5, Pages count : 1

Authors

Гуляев Р.В. ¹ , Стадниченко А.И. ^1,2 , Кощеев С.В. ¹ , Боронин А.И. ^1,2

Affiliations

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск, пр-т Ак. Лаврентьева, 5
2	Новосибирский государственный университет, Новосибирск, ул. Пирогова, 2

Funding (1)

Helmholtz-Centre Berlin for Materials and Energy BESSY

2010_1_91049

Гуляев Р.В. , Стадниченко А.И. , Кощеев С.В. , Боронин А.И.
Эффекты подзарядки поверхности диэлектрических порошков при исследовании методом ФЭС с применением СИ
In compilation XX Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь», РЭСХС-2010. Сборник тезисов докладов.. – ИК СО РАН., 2010. – C.173.

No identifiers

Пока нет цитирований