Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне Conference Abstracts

Conference

Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум
11-14 Mar 2019 , Нижний Новгород

Source

Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5
Compilation, 2019.

Output data

Year: 2019, Pages: 465-466 Pages count : 2

Authors

Zavertkin Pavel S. ¹ , Ivlyushkin Denis V. ¹ , Nikolenko Anton Dmitrievich ¹ , Chkhalo N. I. ²

Affiliations

1	Институт ядерной физики СО РАН, пр-т Лаврентьева, 11, Новосибирск, Россия
2	Институт физики микроструктур РАН, ул. Академическая, д.7, Нижний Новгород, 607680

Заверткин П.С. , Ивлюшкин Д.В. , Николенко А.Д. , Чхало Н.И.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
In compilation Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5. 2019. – C.465-466.

No identifiers

Пока нет цитирований