XRF Microanalysis of Thick Objects | Sciact - CRIS-система Института катализа

XRF Microanalysis of Thick Objects Научная публикация

Журнал

AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X , E-ISSN: 1551-7616

Вых. Данные

Год: 2020, Том: 2299, Номер статьи : 060017, Страниц : 4 DOI: 10.1063/5.0030498

Авторы

Nazmov V.P. ^1,2 , Legkodymov A.A. ¹ , Zhmodik S.M. ³ , Kulipanov G.N. ¹ , Pokhilenko N.P. ³

Организации

1	Budker Institute of Nuclear Physics, SB RAS, pr. Akad. Lavrent’eva 11, 630090, Novosibirsk, Russia
2	Solid State Chemistry and Mechanochemistry SB RAS Kutateladze 18, 630128 Novosibirsk, Russia
3	Sobolev Institute of Geology and Mineralogy SB RAS, pr. Koptyuga 3, 630090 Novosibirsk, Russia

The conditions for investigation of specimens by the micro XRF method on the existing SR source VEPP-4M and the prospective SR source SKIF are compared

Nazmov V.P. , Legkodymov A.A. , Zhmodik S.M. , Kulipanov G.N. , Pokhilenko N.P.
XRF Microanalysis of Thick Objects

AIP Conference Proceedings. 2020. V.2299. 060017 :1-4. DOI: 10.1063/5.0030498 Scopus РИНЦ OpenAlex

Полный текст от издателя

Опубликована в печати:

17 нояб. 2020 г.

Scopus:	2-s2.0-85096495787
РИНЦ:	45172443
OpenAlex:	W3104733506

Пока нет цитирований