Расчет оптических свойств монохроматора с помощью трассировки лучей | Sciact - CRIS-система Института катализа

Расчет оптических свойств монохроматора с помощью трассировки лучей Научная публикация

Журнал

Интерэкспо Гео-Сибирь (Гео-Сибирь до 2011 года)
ISSN: 2618-981X

Вых. Данные

Год: 2023, Том: 8, Номер: 2, Страницы: 137-145 Страниц : 9 DOI: 10.33764/2618-981x-2023-8-2-137-145

Ключевые слова

синхротронное излучение, изогнутый кристалл, монохроматор; synchrotron radiation, bend crystal, monochromator

Авторы

Кутькин О.М. ¹ , Довженко Г.Д. ²

Организации

1	Новосибирский государственный технический университет, г.Новосибирск, Российская федерация
2	ЦКП «СКИФ», Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН г.Новосибирск, Российская Федерация

При проектировании станции синхротронного излучения (СИ) для фокусировки широкого вигглерного пучка, можно использовать монохроматор с изгибаемыми кристаллами. Несмотря на известное [2] аналитическое описание таких систем, для изготовления и оптимизации систем станции требуется произвести моделирование методом трассировки лучей. Для этого был использован пакет xrt [8], в дополнение к которому был написан набор компонент на языке Python. Результаты моделирования подтверждают формулы [2] в большинстве случаев, однако для плоскопараллельных пучков и кристаллов большой толщины моделирование дает более точные результаты. Это необходимо учитывать при проектировании станции, задачей которой является сфокусировать пучок высокоэнергетического рентгеновского излучения в микрообъем.

Кутькин О.М. , Довженко Г.Д.
Расчет оптических свойств монохроматора с помощью трассировки лучей
Интерэкспо Гео-Сибирь (Гео-Сибирь до 2011 года). 2023. Т.8. №2. С.137-145. DOI: 10.33764/2618-981x-2023-8-2-137-145 OpenAlex

OpenAlex:

W4388738240

Пока нет цитирований