Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Устный

Conference

Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция
01-04 Sep 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск

Authors

Kriventsov Vladimir Vladimirovich ^1,2

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
2	Budker Institute of Nuclear Physics SB RAS

Кривенцов В.В.
Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020