Анализ структуры, химического и электронного строения тонких пленок с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Анализ структуры, химического и электронного строения тонких пленок с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Устный

Conference

4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы»
25-29 Apr 2011 , Новосибирск

Authors

Каичев В.В. ¹ , Смирнова Т.П. ² , Гриценко В.А. ³

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
2	Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry SB RAS
3	Rzhanov Institute of Semiconductor Physics SB RAS

Каичев В.В. , Смирнова Т.П. , Гриценко В.А.
Анализ структуры, химического и электронного строения тонких пленок с помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 апр. 2011