Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Стендовый

Conference

XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения
07-10 Jul 2014 , Новосибирск

Authors

Dorovskikh Svetlana Igorevna ¹ , Vikulova Evgeniya Sergeevna ¹ , Zherikova Kseniya Vasilʹevna ¹ , Maximovskiy Eugene A. ¹ , Shubin Yury Viktorovich ¹ , Morozova Natalʹya Borisovna ¹ , Kriventsov Vladimir Vladimirovich ²

Affiliations

1	Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry SB RAS
2	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS

Доровских С.И. , Викулова Е.С. , Жерикова К.В. , Максимовский Е.А. , Шубин Ю.В. , Морозова Н.Б. , Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014