ИСП-АЭС анализ высокочистых веществ с концентрированием примесей отгонкой основы пробы - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

ИСП-АЭС анализ высокочистых веществ с концентрированием примесей отгонкой основы пробы Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

XIV Конференция и VI Школа молодых ученых «Высокочистые вещества и материалы. Получение, анализ, применение»
30 мая - 2 июн. 2011 , Нижний Новгород

Авторы

Цыганкова Альфия Рафаэловна ¹ , Сайко Анастасия Васильевна ² , Шелпакова Ирина Рудольфовна ¹ , Сапрыкин Анатолий Ильич ¹

Организации

1	Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
2	Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Цыганкова А.Р. , Сайко А.В. , Шелпакова И.Р. , Сапрыкин А.И.
ИСП-АЭС анализ высокочистых веществ с концентрированием примесей отгонкой основы пробы
XIV Конференция и VI Школа молодых ученых «Высокочистые вещества и материалы. Получение, анализ, применение» 30 мая - 2 июн. 2011