Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Стендовый

Conference

4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы»
25-29 Apr 2011 , Новосибирск

Authors

Salanov Aleksei Nikolaevich ¹ , Suprun Evgenii Aleksandrovich ¹

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS

Саланов А.Н. , Супрун Е.А.
Современная растровая электронная микроскопия для исследования и характеризации материалов
4 Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 25-29 апр. 2011