Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции Conference attendances
Language | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Participant type | Устный | ||||
Conference |
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 Sep 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск |
||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Евтушок Б.Ю.
, Черепанова С.В.
, Козлова Е.А.
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020
Исследование дефектной структуры и морфологии наночастиц CdS и Cd1-xMnxS методом рентгеновской дифракции
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция 01-04 сент. 2020