Bias-Dependent Corrugation of Charge Density Waves in 1T-TaS2 Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Научная публикация
Журнал |
Physics of Low-Dimensional Structures (up to 2006)
ISSN: 0204-3467 |
||
---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 1996, Том: 1996, Номер: 11-12, Страницы: 109-116 Страниц : 8 | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Shaikhutdinov S.K.
, Babenko V.P.
, Kochubey D.I.
Bias-Dependent Corrugation of Charge Density Waves in 1T-TaS2 Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
Physics of Low-Dimensional Structures (up to 2006). 1996. V.1996. N11-12. P.109-116. РИНЦ
Bias-Dependent Corrugation of Charge Density Waves in 1T-TaS2 Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
Physics of Low-Dimensional Structures (up to 2006). 1996. V.1996. N11-12. P.109-116. РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 2 дек. 1996 г. |
Принята к публикации: | 7 дек. 1996 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 21271777 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
РИНЦ | 2 |