Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне Тезисы доклада
Конференция |
Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум 11-14 мар. 2019 , Нижний Новгород |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5 Сборник, 2019. |
||||
Вых. Данные | Год: 2019, Страницы: 465-466 Страниц : 2 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Заверткин П.С.
, Ивлюшкин Д.В.
, Николенко А.Д.
, Чхало Н.И.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
В сборнике Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5. 2019. – C.465-466.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
В сборнике Нанофизика и наноэлектроника Труды XXII международного симпозиума. Том 1. Секции 1, 2, 4, 5. 2019. – C.465-466.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований