XRF Microanalysis of Thick Objects | Sciact - CRIS-система Института катализа

XRF Microanalysis of Thick Objects Научная публикация

Общая информация

Язык: Английский, Жанр: Статья (Full article),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная

Журнал

AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X , E-ISSN: 1551-7616

Вых. Данные

Год: 2020, Том: 2299, Номер статьи : 060017, Страниц : 4 DOI: 10.1063/5.0030498

Авторы

Nazmov V.P. ^1,2 , Legkodymov A.A.

¹ , Zhmodik S.M. ³ , Kulipanov G.N. ¹ , Pokhilenko N.P. ³

Организации

1	Budker Institute of Nuclear Physics, SB RAS, pr. Akad. Lavrent’eva 11, 630090, Novosibirsk, Russia
2	Solid State Chemistry and Mechanochemistry SB RAS Kutateladze 18, 630128 Novosibirsk, Russia
3	Sobolev Institute of Geology and Mineralogy SB RAS, pr. Koptyuga 3, 630090 Novosibirsk, Russia

The conditions for investigation of specimens by the micro XRF method on the existing SR source VEPP-4M and the prospective SR source SKIF are compared

Nazmov V.P. , Legkodymov A.A. , Zhmodik S.M. , Kulipanov G.N. , Pokhilenko N.P.
XRF Microanalysis of Thick Objects

AIP Conference Proceedings. 2020. V.2299. 060017 :1-4. DOI: 10.1063/5.0030498 Scopus

Полный текст от издателя

Опубликована в печати:

17 нояб. 2020 г.

Scopus

2-s2.0-85096495787