XRF Microanalysis of Thick Objects
Научная публикация
| Общая информация |
Язык:
Английский,
Жанр:
Статья (Full article),
Статус опубликования:
Опубликована,
Оригинальность:
Оригинальная
|
| Журнал |
AIP Conference Proceedings
ISSN: 0094-243X
, E-ISSN: 1551-7616
|
| Вых. Данные |
Год: 2020,
Том: 2299,
Номер статьи
: 060017,
Страниц
: 4
DOI:
10.1063/5.0030498
|
| Авторы |
Nazmov V.P.
1,2
,
Legkodymov A.A.
1
,
Zhmodik S.M.
3
,
Kulipanov G.N.
1
,
Pokhilenko N.P.
3
|
| Организации |
| 1 |
Budker Institute of Nuclear Physics, SB RAS, pr. Akad. Lavrent’eva 11, 630090, Novosibirsk, Russia
|
| 2 |
Solid State Chemistry and Mechanochemistry SB RAS Kutateladze 18, 630128 Novosibirsk, Russia
|
| 3 |
Sobolev Institute of Geology and Mineralogy SB RAS, pr. Koptyuga 3, 630090 Novosibirsk, Russia
|
|
The conditions for investigation of specimens by the micro XRF method on the existing SR source VEPP-4M and the prospective SR source SKIF are compared