XAFS and XPS Study of Germanium and Gallium Arsenic Nanostructures Located in Porous Alumina Matrices - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

XAFS and XPS Study of Germanium and Gallium Arsenic Nanostructures Located in Porous Alumina Matrices Доклады на конференциях

Язык

Английский

Тип доклада

Стендовый

Конференция

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 окт. 2014 , Российская конференция, Казань

Авторы

Кривенцов Владимир Владимирович

¹ , Валеев Ришат Галеевич

² , Ветошкин Владимир Михайлович ² , Якимчук Евгений Петрович

¹ , Новгородов Борис Николаевич

¹ , Максимовский Евгений Анатольевич

¹ , Хорев А. Г. ¹ , Мезенцев Николай Александрович ³

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН
3	Физико-технический институт УрО РАН

Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Ветошкин В.М. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Максимовский Е.А. , Хорев А.Г. , Мезенцев Н.А.
XAFS and XPS Study of Germanium and Gallium Arsenic Nanostructures Located in Porous Alumina Matrices
II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов» 28-28 Oct 2014