Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Conference Abstracts
Conference |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013 , Казань |
||||
---|---|---|---|---|---|
Source | I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» Compilation, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ |
||||
Output data | Year: 2013, Pages: 49 Pages count : 1 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Кривенцов В.В.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Зюзин Д.А.
, Нечепуренко С.Ф.
, Жерикова К.В.
, Доровских С.И.
, Морозова Н.Б.
, Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
In compilation I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
In compilation I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Identifiers:
Elibrary | 21366505 |
Citing:
Пока нет цитирований