Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм. Conference attendances
Language | Русский | ||
---|---|---|---|
Participant type | Пленарный | ||
Conference |
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 Jun 2013 , Екатеринбург |
||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Cite:
Кочубей Д.И.
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013