Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм. Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||
---|---|---|---|
Тип доклада | Пленарный | ||
Конференция |
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013 , Екатеринбург |
||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кочубей Д.И.
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013