Abstract: Представлены результаты исследования методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) модельных объектов: нанесенных частиц металла (Pt, Ag) на поверхности тонких оксидных пленок (А1203 и МоОх), сформированных на проводящих подложках. Обсуждаются проблемы интерпретации полученных СТМ-изображений поверхности неоднородных образцов, описаны специальные подходы и методические приемы, позволяющие идентифицировать наночастицы металлов среди особенностей рельефа поверхности носителя.

Cite: Нартова А.В. , Квон Р.И. , Вовк Е.И. , Бухтияров В.И.
Методические аспекты проведения СТМ-измерений образцов с неоднородной проводимостью поверхности - модельных нанесенных металлических катализаторов на оксидных носителях
Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2005. Т.69. №4. С.524-528. RSCI РИНЦ ANCAN

Translated: Nartova A.V. , Kvon R.I. , Vovk E.I. , Bukhtiyarov V.I.
Methodical Aspects of STM Measurements of Samples with Nonuniform Surface Conductivity (Model Metal Catalysts Deposited on Oxide Carriers)
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 2005. V.69. N4. P.600-605. Scopus РИНЦ

Dates:

Published print:

Apr 1, 2005

Identifiers:

RSCI:	RSCI:9156737
Elibrary:	9156737
Chemical Abstracts:	2005:514420
Chemical Abstracts (print):	143:358150

Citing:

DB	Citing
Elibrary	2