Реферат: На примере исследования образцов байерита показана возможность применения методов определения толщины тонких протяженных кристаллов по микродифракции от пластины микрокристалла и по контрасту прямого изображения. На основании результатов измерений и анализа электронно-микроскопических изображений сделан вывод, что основной морфологической формой исследованных кристаллов являются усеченные конусы, составленные из уложенных в стопки пластинок толщиной 40-200 А.

Библиографическая ссылка: Тренихин М.В. , Ануфриева В.П. , Постернак В.В. , Бубнов А.В.
Исследование микроструктуры байерита методом просвечивающей электронной микроскопии
Кинетика и катализ. 1992. Т.33. №3. С.678-681. РИНЦ CAPlusCA

Переводная: Trenikhin M.V. , Anufrieva V.P. , Posternak V.V. , Bubnov A.V.
Study of the Microstructure of Bayerite by Transmission Electron Microscopy
Kinetics and Catalysis. 1992. V.33. N3. P.547-549. WOS

Даты:

Поступила в редакцию:	28 мая 1991 г.
Опубликована в печати:	1 мая 1992 г.

Идентификаторы БД:

РИНЦ:	25100974
Chemical Abstracts:	1992:623419
Chemical Abstracts (print):	117:223419

Цитирование в БД:

БД	Цитирований
РИНЦ	3