Abstract: На примере исследования образцов байерита показана возможность применения методов определения толщины тонких протяженных кристаллов по микродифракции от пластины микрокристалла и по контрасту прямого изображения. На основании результатов измерений и анализа электронно-микроскопических изображений сделан вывод, что основной морфологической формой исследованных кристаллов являются усеченные конусы, составленные из уложенных в стопки пластинок толщиной 40-200 А.

Cite: Тренихин М.В. , Ануфриева В.П. , Постернак В.В. , Бубнов А.В.
Исследование микроструктуры байерита методом просвечивающей электронной микроскопии
Кинетика и катализ. 1992. Т.33. №3. С.678-681. РИНЦ ANCAN

Translated: Trenikhin M.V. , Anufrieva V.P. , Posternak V.V. , Bubnov A.V.
Study of the Microstructure of Bayerite by Transmission Electron Microscopy
Kinetics and Catalysis. 1992. V.33. N3. P.547-549. WOS

Dates:

Submitted:	May 28, 1991
Published print:	May 1, 1992

Identifiers:

Elibrary:	25100974
Chemical Abstracts:	1992:623419
Chemical Abstracts (print):	117:223419

Citing:

DB	Citing
Elibrary	3