Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ Научная публикация

Журнал

Научный вестник Новосибирского государственного технического университета
ISSN: 1814-1196

Вых. Данные

Год: 2013, Номер: 4, Страницы: 105-113 Страниц : 9

Ключевые слова

СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, МАЛОУГЛОВОЕ РЕНТГЕНОВСКОЕ РАССЕЯНИЕ, КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА, ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕФЛЕКСЫ, ТАТБ

Авторы

Тен К.А. ¹ , Прууэл Э.Р. ¹ , Лукьянчиков Л.А. ¹ , Толочко Б.П. ² , Шарафутдинов М.Р. ² , Шмаков А.Н. ³ , Аминов Ю.А. ⁴ , Музыря А.К. ⁴ , Костицын О.В. ⁴ , Смирнов Е.Б. ⁴

Организации

1	Институт Гидродинамики им. М.А.Лаврентьева СО РАН
2	Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН (Новосибирск)
3	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
4	Российский Федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е. И. Забабахина

Информация о финансировании (3)

1	Российский фонд фундаментальных исследований	10-08-00859 (01201059531)
2	Российский фонд фундаментальных исследований	11-03-00874 (01201159534)
3	Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е.И. Забабахина

Дифракционные методики исследования образцов позволяют определять их внутренние параметры без нарушения целостности. В работе изложены результаты дифракционных исследований взрывчатых материалов на основе 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензола (ТАТБ) с использования синхротронного излучения от ускорительного комплекса ВЭПП-3 (энергия 2 ГэВ, Институт ядерной физики, Новосибирск). Приводятся результаты измерения мало-углового рентгеновского рассеяния синхротронного излучения (Е = 8,2 кэВ) при изменении температуры образцов от 27 до 240 °С для разных плотностей образцов. По этим данным получено внутреннее распределение неоднородностей в диапазоне 2 – 10 нм в зависимости от температуры и плотности. Изменение размеров кристаллической решетки ТАТБ проводилось путем измерения дифракционных рефлексов при изобарическом нагреве до 240 °С в диапазоне углов 4 – 60 град. Увеличение расстояния между слоями при нагреве составляет Δd = 0,01615 нм, при нормальном расстоянии d = 0,35404 нм. В алмазных наковальнях проведено изотермическое сжатие образцов до давлений 6.5 ГПа. Получено изменение расстояния между слоями кристаллической решетки ТАТБ Δd = 0,011 нм при изменении внешнего давления до 6,5 ГПа.

Тен К.А. , Прууэл Э.Р. , Лукьянчиков Л.А. , Толочко Б.П. , Шарафутдинов М.Р. , Шмаков А.Н. , Аминов Ю.А. , Музыря А.К. , Костицын О.В. , Смирнов Е.Б.
Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ
Научный вестник Новосибирского государственного технического университета. 2013. №4. С.105-113. РИНЦ

Поступила в редакцию:

10 окт. 2012 г.

РИНЦ:

21008541

Пока нет цитирований