Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ Full article

Journal

Научный вестник Новосибирского государственного технического университета
ISSN: 1814-1196

Output data

Year: 2013, Number: 4, Pages: 105-113 Pages count : 9

Tags

СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, МАЛОУГЛОВОЕ РЕНТГЕНОВСКОЕ РАССЕЯНИЕ, КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА, ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕФЛЕКСЫ, ТАТБ

Authors

Тен К.А. ¹ , Прууэл Э.Р. ¹ , Лукьянчиков Л.А. ¹ , Толочко Б.П. ² , Шарафутдинов М.Р. ² , Шмаков А.Н. ³ , Аминов Ю.А. ⁴ , Музыря А.К. ⁴ , Костицын О.В. ⁴ , Смирнов Е.Б. ⁴

Affiliations

1	Институт Гидродинамики им. М.А.Лаврентьева СО РАН
2	Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН (Новосибирск)
3	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
4	Российский Федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е. И. Забабахина

Funding (3)

1	Russian Foundation for Basic Research	10-08-00859 (01201059531)
2	Russian Foundation for Basic Research	11-03-00874 (01201159534)
3	Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russian Scientific Research Institute of Technical Physics

Дифракционные методики исследования образцов позволяют определять их внутренние параметры без нарушения целостности. В работе изложены результаты дифракционных исследований взрывчатых материалов на основе 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензола (ТАТБ) с использования синхротронного излучения от ускорительного комплекса ВЭПП-3 (энергия 2 ГэВ, Институт ядерной физики, Новосибирск). Приводятся результаты измерения мало-углового рентгеновского рассеяния синхротронного излучения (Е = 8,2 кэВ) при изменении температуры образцов от 27 до 240 °С для разных плотностей образцов. По этим данным получено внутреннее распределение неоднородностей в диапазоне 2 – 10 нм в зависимости от температуры и плотности. Изменение размеров кристаллической решетки ТАТБ проводилось путем измерения дифракционных рефлексов при изобарическом нагреве до 240 °С в диапазоне углов 4 – 60 град. Увеличение расстояния между слоями при нагреве составляет Δd = 0,01615 нм, при нормальном расстоянии d = 0,35404 нм. В алмазных наковальнях проведено изотермическое сжатие образцов до давлений 6.5 ГПа. Получено изменение расстояния между слоями кристаллической решетки ТАТБ Δd = 0,011 нм при изменении внешнего давления до 6,5 ГПа.

Тен К.А. , Прууэл Э.Р. , Лукьянчиков Л.А. , Толочко Б.П. , Шарафутдинов М.Р. , Шмаков А.Н. , Аминов Ю.А. , Музыря А.К. , Костицын О.В. , Смирнов Е.Б.
Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ
Научный вестник Новосибирского государственного технического университета. 2013. №4. С.105-113. РИНЦ

Submitted:

Oct 10, 2012

Elibrary:

21008541

Пока нет цитирований