Sciact
  • EN
  • RU

Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ Тезисы доклада

Конференция Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция
01-04 сент. 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск
Сборник Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов
Сборник, Институт катализа СО РАН. Новосибирск.2020. 456 c. ISBN 9785906376299. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2020, Номер статьи : УД-I-11, Страниц : 2
Авторы Кривенцов В.В. 1,2
Организации
1 ИК СО РАН, Новосибирск, Россия
2 ИЯФ СО РАН, Новосибирск, Россия

Информация о финансировании (4)

1 Российский фонд фундаментальных исследований 19-03-00530 (АААА-А19-119022890079-0)
2 Российский фонд фундаментальных исследований 19-05-50046 (АААА-А20-120011790071-5)
3 Российский фонд фундаментальных исследований 18-03-01251
4 Министерство науки и высшего образования Российской Федерации (с 15 мая 2018) 05.621.21.0022 (RFMEFI62119X0022) (АААА-А20-120072290017-9)
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В.
Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ
В сборнике Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – Институт катализа СО РАН., 2020. – C.52-53. – ISBN 9785906376299.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Цитирование в БД: Пока нет цитирований