Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ Conference Abstracts

Conference

Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 3-я Всероссийская научная конференция
01-04 Sep 2020 , ИК СО РАН, Новосибирск

Source

Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов
Compilation, Институт катализа СО РАН. Новосибирск.2020. 456 c. ISBN 9785906376299. РИНЦ

Output data

Year: 2020, Article number : УД-I-11, Pages count : 2

Authors

Кривенцов В.В. ^1,2

Affiliations

1	ИК СО РАН, Новосибирск, Россия
2	ИЯФ СО РАН, Новосибирск, Россия

Funding (4)

1	Russian Foundation for Basic Research	19-03-00530 (АААА-А19-119022890079-0)
2	Russian Foundation for Basic Research	19-05-50046 (АААА-А20-120011790071-5)
3	Russian Foundation for Basic Research	18-03-01251
4	Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation	05.621.21.0022 (RFMEFI62119X0022) (АААА-А20-120072290017-9)

Кривенцов В.В.
Возможности XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов, на примере работ, выполненных на УНУ станция EXAFS спектроскопии СЦСТИ
In compilation Методы исследования состава и структуры функциональных материалов (МИССФМ-3). III Всероссийская конференция (1-4 сентября, 2020 г., Новосибирск) [Электронный ресурс] : Сборник тезисов докладов. – Институт катализа СО РАН., 2020. – C.52-53. – ISBN 9785906376299.

No identifiers

Пока нет цитирований