High-Pressure Experiments and X-Ray Diffraction Data Reduction: The Difference from Ambient Pressure Studies and Factors Influencing Data Quality Тезисы доклада
| Конференция |
The Conference and School for Young Scientists High-temperature X-ray Diffraction and X-ray Diffraction of Nanomaterials 19-21 окт. 2020 , Санкт-Петербург |
||||
|---|---|---|---|---|---|
| Сборник | Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов) Сборник, Санкт-Петербург.2020. 126 c. ISBN 9785965105595. РИНЦ |
||||
| Вых. Данные | Год: 2020, Страницы: 41 Страниц : 1 | ||||
| Авторы |
|
||||
| Организации |
|
Информация о финансировании (1)
| 1 | Российский фонд фундаментальных исследований | 19-29-12026 |
Библиографическая ссылка:
Zakharov B.A.
High-Pressure Experiments and X-Ray Diffraction Data Reduction: The Difference from Ambient Pressure Studies and Factors Influencing Data Quality
В сборнике Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.41. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
High-Pressure Experiments and X-Ray Diffraction Data Reduction: The Difference from Ambient Pressure Studies and Factors Influencing Data Quality
В сборнике Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.41. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Идентификаторы БД:
| РИНЦ: | 44088467 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований