Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава | Sciact - CRIS-система Института катализа

Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава Тезисы доклада

Конференция

4-ая школа молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»
12-13 дек. 2022 , Новосибирск

Сборник

Тезисы докладов Школы молодых учёных «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»
Сборник, ООО «ДигитПро». Новосибирск.2022. 82 c. РИНЦ

Вых. Данные

Год: 2022, Страницы: 76-77 Страниц : 2

Авторы

Чжан Фань ^1,2 , Азаров И.А. ^1,2 , Астанкова К.Н. ¹ , Просвирин И.П. ³ , Володин В.А. ¹

Организации

1	ИФП СО РАН, 630090, Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева, 13
2	Новосибирский государственный университет, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 2
3	ИК СО РАН, 630090, Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева, 5

Чжан Ф. , Азаров И.А. , Астанкова К.Н. , Просвирин И.П. , Володин В.А.
Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава
В сборнике Тезисы докладов Школы молодых учёных «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». – ООО «ДигитПро»., 2022. – C.76-77. РИНЦ

РИНЦ:

50751520

Пока нет цитирований