Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава Conference Abstracts

Conference

4-ая школа молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»
12-13 Dec 2022 , Новосибирск

Source

Тезисы докладов Школы молодых учёных «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»
Compilation, ООО «ДигитПро». Новосибирск.2022. 82 c. РИНЦ

Output data

Year: 2022, Pages: 76-77 Pages count : 2

Authors

Чжан Фань ^1,2 , Азаров И.А. ^1,2 , Астанкова К.Н. ¹ , Просвирин И.П. ³ , Володин В.А. ¹

Affiliations

1	ИФП СО РАН, 630090, Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева, 13
2	Новосибирский государственный университет, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 2
3	ИК СО РАН, 630090, Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева, 5

Чжан Ф. , Азаров И.А. , Астанкова К.Н. , Просвирин И.П. , Володин В.А.
Структура тонких пленок GeO стехиометрического состава
In compilation Тезисы докладов Школы молодых учёных «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». – ООО «ДигитПро»., 2022. – C.76-77. РИНЦ

Elibrary:

50751520

Пока нет цитирований