Проект экспериментальной станции X-Techno для источника синхротронного излучения “СКИФ” | Sciact - CRIS-система Института катализа

Проект экспериментальной станции X-Techno для источника синхротронного излучения “СКИФ” Научная публикация

Журнал

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528

Вых. Данные

Год: 2023, Номер: 11, Страницы: 107-112 Страниц : 6 DOI: 10.31857/S1028096023110158

Ключевые слова

синхротронное излучение, экспериментальная станция, рентгеновский пучок, спектральные измерения, рентгеновская литография, зеркало скользящего падения, монохроматор, материаловедение, фильтр поглощения, детектор

Авторы

Назьмов В.П. ^1,2 , Гольденберг Б.Г. ^1,3

Организации

1	Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия
2	Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия
3	Центр коллективного пользования “СКИФ” Института катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Кольцово, 630559 Россия

Экспериментальные станции на источниках синхротронного излучения могут предъявлять разные и даже взаимоисключающие требования к используемому рентгеновскому пучку. В некоторых случаях требуются пучки с минимально возможным поперечным сечением для реализации зондовых методов исследования образцов в режиме картографирования. Для решения задач радиационной обработки материала или изготовления коммерческого продукта с использованием подходов рентгеновской литографии необходим рентгеновский пучок сравнительно большой площади, обеспечивающий равномерное поле экспонирования. На разрабатываемой для источника синхротронного излучения “СКИФ” экспериментальной станции, получившей наименование “X-Techno”, станет возможным формировать пучки синхротронного излучения размером в горизонтальной плоскости до 100 мм и различным спектральным составом. Такие пучки будут применяться поочередно в одной из трех исследовательских камер станции для исследования радиационных эффектов в материалах, а также формирования структур в области микро- и нано размеров. Конструкция станции позволит изучать физико-химические свойства материалов под действием рентгеновского излучения в спектральном диапазоне от 2 до 70 кэВ.

Назьмов В.П. , Гольденберг Б.Г.
Проект экспериментальной станции X-Techno для источника синхротронного излучения “СКИФ”
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2023. №11. С.107-112. DOI: 10.31857/S1028096023110158 РИНЦ OpenAlex СКИФ ID

Nazmov V.P. , Goldenberg B.G.
The SKIF X–Techno Beamline Project
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2023. V.17. N6. P.1273-1277. DOI: 10.1134/s1027451023060150 WOS Scopus РИНЦ CAPlus OpenAlex СКИФ ID

Поступила в редакцию:	15 янв. 2023 г.
Принята к публикации:	9 февр. 2023 г.

РИНЦ:	54403875
OpenAlex:	W4394956121
СКИФ ID:	2841

Пока нет цитирований