High-Resolution Diffractometer for Structural Studies of Polycrystalline Materials | Sciact - CRIS-система Института катализа

High-Resolution Diffractometer for Structural Studies of Polycrystalline Materials Научная публикация

Журнал

Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779

Вых. Данные

Год: 1994, Том: 35, Номер: 2, Страницы: 224-228 Страниц : 5 DOI: 10.1007/BF02578312

Ключевые слова

Synchrotron Radiation; Crystal Analyzer; Synchrotron Radiation Beam; Anomalous Scattering; Oscillation Curve

Авторы

Shmakov A.N. ¹ , Mytnichenko S.V. ¹ , Tsybulya S.V. ¹ , Solovyeva L.P. ¹ , Tolochko B.P. ¹

Организации

1	Institute of Catalysis, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

A high-resolution powder diffraction station with synchrotron radiation has been created. The diffractometer was developed on the basis of two Microcontrol precision goniometers. The latter provide the independent movement of a specimen and a detector with a minimal step of 2θ=0.001°. Using the Si(111) crystal as the analyzer, we obtained half widths of the (212), (203), and (301) reflections for α-SiO2 (0.02–0.025° 2θ). The device was tested using α-Al2O3 as the standard.

Shmakov A.N. , Mytnichenko S.V. , Tsybulya S.V. , Solovyeva L.P. , Tolochko B.P.
High-Resolution Diffractometer for Structural Studies of Polycrystalline Materials
Journal of Structural Chemistry. 1994. V.35. N2. P.224-228. DOI: 10.1007/BF02578312 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex

Шмаков А.Н. , Мытниченко С.В. , Цыбуля С.В. , Соловьева Л.П. , Толочко Б.П.
Дифрактометр высокого разрешения для структурных исследований поликристаллических материалов
Журнал структурной химии. 1994. Т.35. №2. С.85-91. РИНЦ CAPlusCA

Поступила в редакцию:	13 мая 1993 г.
Опубликована в печати:	1 мар. 1994 г.

Web of science:	WOS:A1994PR42800012
Scopus:	2-s2.0-51249164811
РИНЦ:	29218981
OpenAlex:	W2079989003

БД	Цитирований
Web of science	8
Scopus	8
РИНЦ	8
OpenAlex	9