Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум
11-14 мар. 2019 , Нижний Новгород

Авторы

Заверткин Павел Сергеевич ¹ , Ивлюшкин Денис Валерьевич ¹ , Николенко Антон Дмитриевич ¹ , Чхало Николай Иванович ²

Организации

1	Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН
2	Институт физики микроструктур РАН

Заверткин П.С. , Ивлюшкин Д.В. , Николенко А.Д. , Чхало Н.И.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум 11-14 мар. 2019