Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Устный

Conference

Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум
11-14 Mar 2019 , Нижний Новгород

Authors

Zavertkin Pavel S. ¹ , Ivlyushkin Denis V. ¹ , Nikolenko Anton Dmitrievich ¹ , Chkhalo N. I. ²

Affiliations

1	Budker Institute of Nuclear Physics SB RAS
2	Institute for Physics of Microstructures RAS

Заверткин П.С. , Ивлюшкин Д.В. , Николенко А.Д. , Чхало Н.И.
Исследование отражательных характеристик кристаллов и МРЗ в мягком рентгеновском диапазоне
Нанофизика и наноэлектроника. XXIII Международный симпозиум 11-14 мар. 2019