Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Пленарный

Конференция

Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция
14-22 мая 2012 , Омск

Авторы

Черепанова Светлана Витальевна ^1,2

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Черепанова С.В.
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 мая 2012