Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Пленарный

Conference

Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция
14-22 May 2012 , Омск

Authors

Cherepanova Svetlana Vitalievna ^1,2

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
2	Novosibirsk National Research University

Черепанова С.В.
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 мая 2012