Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых
15-19 апр. 2013 , Москва-Клязьма

Авторы

Мельгунов Максим Сергеевич , Аюпов Артем Борисович , Фенелонов Владимир Борисович , Вайнер Борис Григорьевич

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН

Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента
Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых 15-19 апр. 2013