Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента - Conference attendances | Sciact - CRIS-system of Boreskov Institute of Catalysis

Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента Conference attendances

Language

Русский

Participant type

Устный

Conference

Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых
15-19 Apr 2013 , Москва-Клязьма

Authors

Melgunov Maksim Sergeevich , Ayupov Artem Borisovich , Fenelonov Vladimir Borisovich , Vajner Boris Grigorʹevich

Affiliations

1	Boreskov Institute of Catalysis SB RAS
2	Rzhanov Institute of Semiconductor Physics SB RAS

Мельгунов М.С. , Аюпов А.Б. , Фенелонов В.Б. , Вайнер Б.Г.
Инфракрасная термография как бесконтактный метод мониторинга температурного профиля в слое адсорбента
Актуальные проблемы теории адсорбции, пористости и адсорбционной селективности : XV Всероссийский симпозиум с участием иностранных ученых 15-19 апр. 2013