Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Стендовый

Конференция

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 окт. 2014 , Казань

Авторы

Кривенцов В.В. ¹ , Валеев Р.Г. ² , Бельтюков А.Н. ² , Якимчук Е.П. ¹ , Хорев А.Г. ¹ , Нечепуренко С.Ф. ¹ , Максимовский Е.А. ¹ , Морозова Н.Б. ¹ , Новгородов Б.Н. ¹ , Мезенцев Н.А. ³

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Физико-технический институт УрО РАН
3	Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН

Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Якимчук Е.П. , Хорев А.Г. , Нечепуренко С.Ф. , Максимовский Е.А. , Морозова Н.Б. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А.
Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом
II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов» 28-28 окт. 2014